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EDX600鍍層測厚儀（X熒光測厚儀）

EDX600鍍層測厚儀性能特點
EDX600 X熒光測厚儀專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。

技術指標
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：1ppm。
分析含量一般為：1ppm到99.9％。
多次測量重復性可達：0.1％。
長期工作穩定性為：0.1％。
標準配置
單樣品腔。
激光定位裝置。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
應用領域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
JD-主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

硬件

 主機壹臺，含下列主要部件：
 （1） X光管
 （2） 正比計數器
 （3） 放大電路
 （4） 高清晰攝像頭
 （5） 高壓系統
 （6） 單樣品腔
 2.2 軟件
 X熒光光譜儀厚度分析軟件V1.0
 2.3 計算機、打印機各一臺
 計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）
 2.4 資料
 儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
 2.5 標準附件
 準直孔：Ф1.0mm
工作環境要求
 3.1 環境溫度要求：15℃-30℃
 3.2 環境相對濕度：<70%
 3.3 工作電源：交流220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
 3.4 周圍不能有強電磁干擾。
技術指標
 4.1 分析元素范圍：K-U
 4.2 測量精度：0.1μm
 4.3 高壓：5kV-50kV
 4.4 管流：50μA-1000μA
 4.5 測量時間：60s-300s
 4.6計數率：1300-8000cps